TSI，一家精密測量化學分析儀器制造商，在近日舉行的明尼蘇達州明尼阿波利斯市第61屆美國質譜大會正式開始之前，將邀請眾多的著名學者，探討傳統(tǒng)質譜分析技術在近年所取得的進步。
一個跨學科小組的學術帶頭人將為大家呈現(xiàn)他們的工作，主題是LiquiScan-ES技術，它是將電噴霧技術與掃描移動粒徑（SMPS）技術結合而成，之前稱為MarcroIMS.這種技術主要用來表征溶液中的大分子、納米粒子和蛋白質。他們也會介紹這項技術的概況以及目前采用該技術所做的研究狀況。討論主要集中在如何改善該儀器的可用性以及分辨率，從而擴大設備的適用范圍。發(fā)言人包括美國明尼蘇達大學的ChrisHogan博士，維也納大學的WladyslaW.Szymanski博士，維也納科技大學的GnterAllmaier博士，邁克撒迦利亞從馬里蘭NIST大學的MikeZachariah博士，澤維爾大學的RobertBlake博士，維也納科技大學的PeterKallinger博士。
本次新技術研討會歡迎各方人士前來參加，這也為對質譜研究人員提供了一次與相同領域的研究者交流的機會，以期得到更多的發(fā)現(xiàn)，TSI公司全球市場部經(jīng)理EdPickens說。
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