2016年11月1日，第二十一屆(深圳)LED通用照明驅(qū)動(dòng)與調(diào)光技術(shù)研討會(huì)在深圳馬哥孛羅酒店成功舉辦。會(huì)上，艾德克斯電子有限公司中國(guó)部技術(shù)支持工程師張彬和上海寶宮電子科技有限公司技術(shù)總監(jiān)李吉曉帶來(lái)了LED電源測(cè)試和保護(hù)方案。

艾德克斯電子有限公司中國(guó)部技術(shù)支持工程師張彬帶來(lái)了《用“艾”點(diǎn)亮未來(lái)---艾德克斯LED產(chǎn)業(yè)測(cè)試解決方案》。艾德克斯的LED測(cè)試解決方案主要應(yīng)用于LED驅(qū)動(dòng)電源的整體測(cè)試、LED燈具的可靠性測(cè)試，以及為L(zhǎng)ED積分球/光通量等測(cè)試系統(tǒng)的集成提供重要且高品質(zhì)的測(cè)試儀器。

在LED驅(qū)動(dòng)電源PWM調(diào)光測(cè)試方面，張彬工程師重點(diǎn)介紹了艾德克斯電源測(cè)試領(lǐng)域明星產(chǎn)品——ITS9500電源測(cè)試系統(tǒng)，可用于充電器測(cè)試、車(chē)載充電機(jī)測(cè)試、LED驅(qū)動(dòng)電源測(cè)試、AC-DC/DC-DC電源模塊測(cè)試以及其他電源相關(guān)產(chǎn)品測(cè)試。

LED燈具工作在電網(wǎng)環(huán)境中，真實(shí)電網(wǎng)中的交流電與理想狀況存在較大差異，LED燈具是否能在這些情況下穩(wěn)定工作？張工指出，艾德克斯提供LED燈具可靠性測(cè)試，不僅能夠幫助工程師更方便的進(jìn)行測(cè)試獲取準(zhǔn)確數(shù)據(jù)，更加能夠在實(shí)驗(yàn)室里為L(zhǎng)ED燈具營(yíng)造一個(gè)真實(shí)工作的環(huán)境，讓一切品質(zhì)問(wèn)題無(wú)處可藏，將產(chǎn)品出廠(chǎng)后的客訴問(wèn)題降到最低。

LED光源使用壽命達(dá)到6~10W小時(shí)，比傳統(tǒng)光源壽命長(zhǎng)10倍以上。想要達(dá)到這種理想狀態(tài)，抗老化能力顯得尤為重要。其實(shí)不管是芯片，還是模組，乃至成品，老化測(cè)試占據(jù)著重要地位，能夠檢測(cè)LED產(chǎn)品的光衰、色溫變化、漏電等。

上海寶宮電子科技有限公司技術(shù)總監(jiān)李吉曉帶來(lái)了《LED照明中的AC線(xiàn)性電源保護(hù)》。李總監(jiān)分析道，LED燈具破壞的原因有三個(gè)，其中LED燈珠問(wèn)題占比10%，結(jié)構(gòu)和線(xiàn)路問(wèn)題占比20%，驅(qū)動(dòng)器電源問(wèn)題則占比達(dá)70%。浪涌問(wèn)題已被稱(chēng)為L(zhǎng)ED燈具設(shè)計(jì)的致命缺陷，尤其是線(xiàn)性驅(qū)動(dòng)LED。

在LED照明行業(yè)，DOB技術(shù)正逐漸被市場(chǎng)接受，LED照明2015年銷(xiāo)售1600億人民幣，比2014年增長(zhǎng)68%，AC-DOB復(fù)合增長(zhǎng)率為35%。

但是因?yàn)樾袠I(yè)對(duì)于防雷問(wèn)題技術(shù)積累不夠，且出于成本的考慮，以及相關(guān)的電路耐雷擊的能力不高等原因，防雷安全問(wèn)題也越來(lái)越成為制約DOB技術(shù)發(fā)展的重要因素。

李總監(jiān)指出，多種過(guò)電壓的情況，如雷擊建筑物感應(yīng)、雷擊架空電力線(xiàn)傳導(dǎo)、地電位反沖以及電力線(xiàn)搭接等，都能產(chǎn)生電路破壞，從而引發(fā)事故。

而傳統(tǒng)的開(kāi)關(guān)電源的保護(hù)方案和移植而來(lái)的AC-DOB保護(hù)方案還存在各種保護(hù)問(wèn)題，如保險(xiǎn)電阻耐壓不夠和不能可靠斷開(kāi)、保險(xiǎn)絲過(guò)不了雷擊等。改良過(guò)的方案還是不能很好地防雷，存在問(wèn)題依然很多。

上海寶宮電子針對(duì)行業(yè)的技術(shù)特點(diǎn)和工藝要求，研發(fā)出適用于A(yíng)C線(xiàn)性電源保護(hù)的小型化貼片高能保護(hù)器CMS系列產(chǎn)品，以解決行業(yè)防雷安全問(wèn)題。

李總監(jiān)指出，寶宮電子的保護(hù)方案能夠同時(shí)防護(hù)雷擊和靜電、延長(zhǎng)LED燈使用壽命、降低電解電容的耐擊穿電壓以及有效解決AC-DOB的頻閃問(wèn)題。

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