從專利技術(shù)看MEMS紅外探測(cè)器研究重點(diǎn)

時(shí)間:2019-02-15

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導(dǎo)語:紅外探測(cè)是以紅外成像為核心的一項(xiàng)探測(cè)技術(shù),它通過把紅外輻射轉(zhuǎn)換成其它可測(cè)量物理信號(hào)(如:電壓),并對(duì)該物理信號(hào)做相應(yīng)的模擬或數(shù)字信號(hào)處理,從而得到可供人類視覺分辨的圖像。

紅外探測(cè)是以紅外成像為核心的一項(xiàng)探測(cè)技術(shù),它通過把紅外輻射轉(zhuǎn)換成其它可測(cè)量物理信號(hào)(如:電壓),并對(duì)該物理信號(hào)做相應(yīng)的模擬或數(shù)字信號(hào)處理,從而得到可供人類視覺分辨的圖像。

1MEMS紅外探測(cè)器概述

紅外探測(cè)是以紅外成像為核心的一項(xiàng)探測(cè)技術(shù),它通過把紅外輻射轉(zhuǎn)換成其它可測(cè)量物理信號(hào)(如:電壓),并對(duì)該物理信號(hào)做相應(yīng)的模擬或數(shù)字信號(hào)處理,從而得到可供人類視覺分辨的圖像。發(fā)展至今,紅外探測(cè)技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于軍事、醫(yī)療、農(nóng)業(yè)、安防等多個(gè)領(lǐng)域。

MEMS(microelectromechanicalsystem)又稱為微機(jī)電系統(tǒng),它現(xiàn)已被廣泛應(yīng)用于電腦、汽車、醫(yī)療機(jī)械和航空航天等的微芯片制造中,因?yàn)樗粌H具有體積小、重量輕、可靠性高的優(yōu)點(diǎn)、還能持續(xù)提升芯片性能并降低成本,利于大批量生產(chǎn),因此受到高技術(shù)產(chǎn)業(yè)市場(chǎng)的歡迎。

2國內(nèi)外研究現(xiàn)狀

2.1紅外探測(cè)器的分類

紅外探測(cè)器主要包括四大部分。(1)紅外成像鏡頭,主要作用是把探測(cè)目標(biāo)成像到探測(cè)器組件上;(2)紅外焦平面陣列FPA(focusplanearray),這部分的作用是把紅外輻射轉(zhuǎn)化為其它便于測(cè)量的物理信號(hào),如:電信號(hào);(3)信號(hào)處理部分,對(duì)紅外焦平面陣列輸出的物理信號(hào)做放大、濾波等處理,然后轉(zhuǎn)換為視頻信號(hào);(4)顯示器,接收視頻信號(hào),顯示出圖像。

紅外探測(cè)器中的核心組件是紅外焦平面陣列部分,該組件是國內(nèi)外研究的熱點(diǎn)。根據(jù)探測(cè)機(jī)理可將紅外焦平面陣列的探測(cè)單元分成兩大類:光子型探測(cè)器(制冷型探測(cè)器)和熱型探測(cè)器(非制冷型探測(cè)器)。具體分類如下:

光子型紅外探測(cè)器,其工作基礎(chǔ)是半導(dǎo)體材料的內(nèi)光電效應(yīng)—光電導(dǎo)效應(yīng)或光生伏特效應(yīng),具體可以分為以下幾種:光電導(dǎo)型探測(cè)器、光電子發(fā)射型探測(cè)器、光伏型探測(cè)器。光子型紅外成像系統(tǒng)的最大優(yōu)點(diǎn)是探測(cè)靈敏度高,其缺點(diǎn)是工作時(shí)需要用液氮進(jìn)行冷卻,以消除探測(cè)器的熱噪聲,整個(gè)成像系統(tǒng)就需要增加制冷器和杜瓦瓶等額外設(shè)備,使得系統(tǒng)制造成本偏高,功耗、體積和重量都較大。這些缺點(diǎn)導(dǎo)致光子型紅外成像系統(tǒng)基本只應(yīng)用于天文、軍事和學(xué)術(shù)研究等領(lǐng)域。

熱型紅外探測(cè)器,其主要是基于紅外輻射的熱效應(yīng)—像素(內(nèi)含敏感元)吸收紅外輻射導(dǎo)致其溫度上升,從而引起敏感元的某些可測(cè)量的物理特性的變化,通過測(cè)量這種變化完成紅外探測(cè)。這些可測(cè)量的變化包括:電阻變化、電容變化、熱釋電效應(yīng)、賽貝克(Seebeck)效應(yīng)、氣體壓力變化、液晶色變和熱彈性效應(yīng)等等。傳統(tǒng)的熱型探測(cè)器可以分為以下幾種:熱敏電阻探測(cè)器、熱釋電型探測(cè)器、熱電偶型探測(cè)器。熱型紅外成像系統(tǒng)不需要液氮制冷,整個(gè)成像系統(tǒng)的功耗、體積和重量較小,容易維護(hù),價(jià)格相對(duì)低廉。熱型紅外成像系統(tǒng)的探測(cè)靈敏度低于制冷型成像系統(tǒng),其噪聲等效溫差在0.1K左右。熱型紅外成像系統(tǒng)已廣泛用于人類日常生活中,如:夜視儀、安全監(jiān)控和熱像儀。

熱型紅外探測(cè)器的發(fā)展一直落后于光子型紅外探測(cè)器,隨著材料科學(xué)的發(fā)展和加工手段的改進(jìn),尤其是薄膜工藝和MEMS技術(shù)等關(guān)鍵支撐技術(shù)的逐漸成熟,熱型紅外焦平面陣列技術(shù)不斷取得突破,熱型紅外探測(cè)器已逐漸成為紅外研究領(lǐng)域的熱點(diǎn)。熱型紅外探測(cè)器的最大優(yōu)點(diǎn)是能在熱下工作,為實(shí)現(xiàn)低成本、小型化、便攜式紅外探測(cè)系統(tǒng)開辟了道路,目前熱型紅外探測(cè)系統(tǒng)的生產(chǎn)成本與市場(chǎng)價(jià)格已大為降低,為量子型紅外探測(cè)器的幾分之一。雖然與量子型紅外探測(cè)器相比較,熱型紅外探測(cè)器響應(yīng)速度較慢,但隨著技術(shù)的發(fā)展,熱型紅外探測(cè)器已完全能滿足凝視成像的要求。

2.2基于MEMS技術(shù)的非致冷紅外探測(cè)器的發(fā)展

熱型紅外探測(cè)的關(guān)鍵是如何制作具有良好熱絕緣特性的結(jié)構(gòu)。一般而言,懸空結(jié)構(gòu)具有良好的熱絕緣性能,而制作這種懸空結(jié)構(gòu)正是MEMS技術(shù)的優(yōu)勢(shì)。紅外探測(cè)技術(shù)的發(fā)展歷史已經(jīng)證明:正是日益成熟的MEMS技術(shù)和成熟的IC技術(shù)共同推動(dòng)了非致冷紅外探測(cè)器的發(fā)展。

按照信號(hào)讀出方式的差別,基于MEMS技術(shù)的非致冷紅外探測(cè)器可分為電學(xué)讀出方式和光學(xué)讀出方式非致冷紅外探測(cè)器。電學(xué)讀出方式是一種傳統(tǒng)信號(hào)檢出方式,目前正在使用的紅外探測(cè)器都采用電學(xué)讀出方式;采用光學(xué)方法讀出紅外信號(hào)則是一種新型的信號(hào)檢出方式,它具有高靈敏度、高分辨率等特點(diǎn),是近年來廣受關(guān)注的一項(xiàng)新型檢出技術(shù)。

3MEMS紅外探測(cè)典型案例

3.1MEMS熱電堆紅外探測(cè)器

MEMS熱電堆紅外探測(cè)器屬于一種電學(xué)讀出非制冷紅外探測(cè)器的。熱電堆紅外探測(cè)器的工作原理是基于塞貝克效應(yīng)的紅外輻射探測(cè)。把兩種不同材料的一端相連,另一端不相連,形成一對(duì)熱電偶。當(dāng)相連的一端受熱溫度增加時(shí),會(huì)在材料的兩端形成溫差ΔT,那么兩種材料不相連的兩端會(huì)有電勢(shì)差產(chǎn)生ΔV。通過對(duì)輸出信號(hào)的處理可以探測(cè)到最初的紅外光源的強(qiáng)度和波長(zhǎng)大小等特性。關(guān)于熱電堆紅外探測(cè)器的研究重點(diǎn)在于吸收層材料的改進(jìn)和如何與CMOS工藝更好的兼容,而傳統(tǒng)的熱電堆紅外探測(cè)器的缺點(diǎn)首先是吸收層材料對(duì)紅外的吸收率低,對(duì)不同波段的紅外光吸收率相差較大。其次熱電偶材料主要采用金屬,不能與CMOS兼容;另外“三明治”結(jié)構(gòu)采用多層介質(zhì)膜,因?yàn)槭嵌鄬铀匀菀壮霈F(xiàn)各層應(yīng)力不匹配的問題。

中北大學(xué)、中國科學(xué)院微電子研究所針對(duì)吸收層材料對(duì)紅外的吸收率低的缺點(diǎn),提出一種通過制作“黑硅”的方法處理多晶硅或非晶硅得到錐狀森林結(jié)構(gòu)提高紅外吸收率(專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N201110104209.9)。該MEMS熱電堆紅外探測(cè)器的主要結(jié)構(gòu)包括:硅襯底、介質(zhì)支撐膜、多組由P/N型多晶硅熱偶條上下疊置構(gòu)成的熱電堆以及紅外吸收層材料。

圖1MEMS熱電堆紅外探測(cè)器結(jié)構(gòu)示意圖

UD控股有限責(zé)任公司提出了一種“超點(diǎn)陣量子阱紅外探測(cè)器”(專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N201180057683.9),該專利申請(qǐng)的技術(shù)方案中,通過對(duì)懸臂14、15制作方法和材料的改進(jìn),降低了吸收器12與懸臂14、15之間的導(dǎo)熱性,從而降低熱泄露,改善紅外探測(cè)器的性能。見圖2。

圖2超點(diǎn)陣量子阱紅外探測(cè)器結(jié)構(gòu)示意圖

3.2法布里-泊羅干涉型光學(xué)讀出紅外傳感器

由于電讀出紅外成像系統(tǒng)需要在紅外焦平面陣列(FPA)的探測(cè)單元內(nèi)部集成高信噪比的讀出電路,通過該集成電路將與紅外輻射強(qiáng)弱成比例的電學(xué)信號(hào)以逐行的方式讀出,經(jīng)過處理,合成用于顯示器顯示的視頻信號(hào)。電讀出的方式已經(jīng)十分成熟,然而仍存在一些不足之處:(1)在探測(cè)單元內(nèi)部集成的讀出電路會(huì)產(chǎn)生額外的熱量引起焦耳噪聲,使探測(cè)靈敏度降低;(2)隨著紅外焦平面陣列像素的增加,很難做到同時(shí)兼顧高分辨率和高幀率的技術(shù)需求;(3)針對(duì)熱型的紅外探測(cè)器,讀出電路中使用的金屬材料會(huì)增加整個(gè)探測(cè)單元的熱導(dǎo),導(dǎo)致探測(cè)靈敏度降低。電讀出方式的這些不足,使得光讀出方式逐漸受到研究者的關(guān)注。

法布里-泊羅干涉型光學(xué)讀出熱成像系統(tǒng)的工作機(jī)理是紅外熱效應(yīng)、雙金屬片效應(yīng)和光的干涉原理。換而言之,該系統(tǒng)就是利用雙材料梁由于紅外熱效應(yīng)和雙金屬片效應(yīng)而產(chǎn)生的位移對(duì)可見光的強(qiáng)度進(jìn)行調(diào)制,從而直接將紅外圖像直接轉(zhuǎn)化為可見光圖像。

北京大學(xué)提出了“一種基于MEMS技術(shù)的全波段紅外焦平面陣列”(專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N201310416650.X),其為一種典型的光學(xué)讀出型MEMS紅外探測(cè)器結(jié)構(gòu)。其工作原理是:當(dāng)紅外光輻射到焦平面陣列時(shí),設(shè)計(jì)在紅外敏感面上的紅外吸收結(jié)構(gòu)將吸收的能量轉(zhuǎn)換成熱能,由于雙材料效應(yīng),微懸臂梁像元發(fā)生偏轉(zhuǎn),光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)通過透明襯底讀出微懸臂梁像元陣列的形變量和分布。該發(fā)明提供的紅外焦平面陣列通過在紅外敏感面上設(shè)置的超材料結(jié)構(gòu),可進(jìn)行全波段紅外探測(cè)和成像,工作在非制冷環(huán)境下,可采用簡(jiǎn)單的聚酰亞胺犧牲層工藝制造。

圖3光學(xué)讀出型MEMS紅外探測(cè)器結(jié)構(gòu)正視圖

中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所提出了一種光學(xué)讀出紅外探測(cè)器結(jié)構(gòu)(專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N201510341090.5),其改善了可見光利用率。其結(jié)構(gòu)包括:玻璃襯底和通過錨結(jié)構(gòu)懸空于玻璃襯底上的懸浮結(jié)構(gòu);懸浮結(jié)構(gòu)包括可見光反射層、紅外吸收層以及支撐梁;通過將可見光反射層懸空地設(shè)置于玻璃襯底上,并且紅外吸收層空于可見光反射層上,實(shí)現(xiàn)了可見光反射層和紅外吸收層分離,從而避免了可見光反射層由于雙材料效應(yīng)導(dǎo)致變形,且可見光反射層面積的增加提高了可見光的利用率,從而使紅外探測(cè)器同時(shí)滿足對(duì)器件各方面的要求,提高器件的綜合性能。

圖4光學(xué)讀出型MEMS紅外探測(cè)器結(jié)構(gòu)示意圖

3.3熱敏電阻型MEMS紅外傳感器

熱敏電阻探測(cè)器,由半導(dǎo)體薄膜材料制成。半導(dǎo)體薄膜材料吸收紅外輻射,溫度升高導(dǎo)致其電阻發(fā)生變化,信號(hào)讀出電路把電阻的變化轉(zhuǎn)換為電壓的變化。信號(hào)讀出電路輸出電壓的穩(wěn)定值與入射輻射的功率成正比。雖然熱敏電阻探測(cè)器并非MEMS紅外傳感器的熱點(diǎn),但是近年仍有研究機(jī)構(gòu)對(duì)熱敏電阻型MEMS紅外傳感器做出技術(shù)上的改進(jìn),例如以下這項(xiàng)專利:

中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究院提出了一種具有較高信噪比的紅外探測(cè)器陣列及其制作方法(專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N201510368985.8),該紅外探測(cè)器陣列的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)在于在非致冷紅外探測(cè)器像素的懸橋結(jié)構(gòu)上制作兩組熱敏單元B1和B2,在襯底上制作另外兩組熱敏單元S1和S2,再通過惠斯通電橋形式將這四組熱敏單元連接起來,差分輸出電信號(hào),從而抑制了電路噪聲,可顯著地提高器件的信噪比。

圖5熱敏電阻型MEMS紅外探測(cè)器結(jié)構(gòu)

4MEMS紅外探測(cè)器發(fā)展趨勢(shì)及應(yīng)用前景

繼續(xù)提高芯片性能和集成度、降低制造成本,一直并且仍然是熱紅外探測(cè)器的發(fā)展方向。從性能角度來看,在微機(jī)械加工技術(shù)日益成熟的情況下,靈敏度的提高主要涉及到熱敏感材料或元件的選擇。從集成度來看,非制冷列陣正循著可見光圖像傳感器的路徑發(fā)展。隨著探測(cè)器的日益復(fù)雜和完善,將開發(fā)與之兼容的多芯片組件和表面安裝技術(shù),以制作更高集成度的攝像器件。從實(shí)現(xiàn)低成本角度來看,制作與CMOS工藝完全兼容的單片集成式微機(jī)械熱紅外探測(cè)器及陣列是實(shí)現(xiàn)低成本的有效途徑,這需要開發(fā)更合理的集成方案的提出。

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