安捷倫發(fā)布最新IC-CAP平臺軟件通過連接測量和提取改進(jìn)建模流程

時間:2011-07-08

來源:安捷倫科技(中國)有限公司

導(dǎo)語:安捷倫科技公司日前宣布發(fā)布最新版本的器件建模軟件平臺――集成電路表征和分析程序。

      2011 年 6月22 日,北京――安捷倫科技公司(NYSE:A)日前宣布發(fā)布最新版本的器件建模軟件平臺――集成電路表征和分析程序。IC-CAP 2011.04 將 IC-CAP Wafer Professional 自動測量解決方案與 IC-CAP CMOS 模型提取套件相結(jié)合,能夠顯著改善半導(dǎo)體器件的建模流程。

      先進(jìn)的 CMOS 器件建模需要執(zhí)行大量測量,以分析制程趨勢,確定提取典型和邊際器件模型所需的數(shù)據(jù)。管理和分析數(shù)據(jù),以確保為復(fù)雜的模塊提取和驗證做出正確的選擇,是一項很大的挑戰(zhàn)。這通常需要建模團(tuán)隊使用多種軟件工具來轉(zhuǎn)換將數(shù)據(jù)格式,但這樣既不精確又缺乏效率。IC-CAP WaferPro 幫助用戶以最有效的方式收集和管理大量數(shù)據(jù)?,F(xiàn)在,IC-CAP CMOS 建模套件首次能夠與 WaferPro 完美結(jié)合。

      通過 IC-CAP 2011.04,用戶能夠在 Agilent CMOS 套件環(huán)境中定義器件和測量測試,自動生成可在各種測試設(shè)備上執(zhí)行的 WaferPro 測試方案。通過 WaferPro 表征各種幾何形狀的器件后,CMOS 提取模塊將自動讀取測量數(shù)據(jù)用于模型提取。由于不需要在測量和建模應(yīng)用之間進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸或格式轉(zhuǎn)化,這極大地提高了流程效率。

      Agilent EEsof EDA 事業(yè)部產(chǎn)品經(jīng)理 Roberto Tinti 表示:“從 2010 版本開始,IC-CAP WaferPro 憑借其性能、靈敏度、對測試儀器和系統(tǒng)的廣泛支持,以及最大程度地幫助使用實驗室設(shè)備等優(yōu)勢,已經(jīng)日益成為客戶的理想選擇。我們非常高興地將 WaferPro 的強(qiáng)大功能提供給所有 Agilent CMOS 提取套件用戶。這樣,我們可以幫助他們更有效地安排從測量到提取從整個流程?!?/p>

      除了 WaferPro 和 CMOS 套件組合,IC-CAP 2011.04 還增加了對 Windows 7 的支持,并且改進(jìn)了仿真、測量和編程環(huán)境中的幾個平臺。增強(qiáng)功能包括使用 Verilog-A 和 Agilent ADS 仿真器(在IC-CAP 分析模塊中免費(fèi)使用,無需額外的許可證)進(jìn)行仿真,并支持 spice 網(wǎng)表中的 PARAM語法格式。此外,WaferPro 現(xiàn)在支持 Tokyo Electron P8/P12 全自動探針臺,同時 Agilent B1505A 直流功率分析儀驅(qū)動程序支持在多個偏置單元上進(jìn)行脈沖偏置。

關(guān)于 IC-CAP WaferPro 和 CMOS 建模套件

      Agilent W8510 IC-CAP WaferPro 通過控制半自動和全自動探針臺和先進(jìn)儀器(例如 Agilent 4080 參數(shù)測試儀),支持用戶以不同的溫度執(zhí)行自動晶圓上測量。它是進(jìn)行 DC-CV 和射頻器件建模測量的最強(qiáng)大的測量套件。IC-CAP CMOS 測量和提取套件提供專用的軟件環(huán)境,以提取先進(jìn) CMOS 器件的典型和邊際模型。它完全支持用于 CMOS 業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)模塊(例如 BSIM3、BSIM4、PSP 和 HiSIM)的有效的參數(shù)提取程序。該套件能夠在提取當(dāng)前 CMOS 器件的復(fù)雜多樣的模型過程中,適當(dāng)?shù)仄胶庖绘I式解決方案的效率及自定義參數(shù)提取的需要。

關(guān)于 IC-CAP 軟件

      Agilent IC-CAP 軟件是一個器件建模程序,擁有強(qiáng)大的表征和分析功能,可用于當(dāng)今的半導(dǎo)體建模工藝。IC-CAP 可以高效、準(zhǔn)確地提取有源器件參數(shù)和電路模型參數(shù),執(zhí)行多項建模任務(wù),包括儀器控制、數(shù)據(jù)采集、圖形分析、仿真和優(yōu)化等。半導(dǎo)體代工廠和設(shè)計公司利用它來表征晶圓工藝。

如欲了解有關(guān) IC-CAP2011.04 的更多信息,請訪問 www.agilent.com/find/eesof-iccap2011_04。查看用于 IC-CAP 的 IC-CAP WaferPro 和 CMOS 模塊提取套件的高分辨率圖片,請訪問 www.agilent.com/find/iccap2011_04_images。

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