1、中子：不帶電的粒子流。輻射源為核反應(yīng)堆、加速器或中子發(fā)生器，在原子核受到外來粒子的轟擊時(shí)產(chǎn)生核反應(yīng)，從原子核里釋放出來。中子按能量大小分為：快中子、慢中子和熱中子。中子電離密度大，常常引起大的突變。

2、中子射線照相檢測(cè)的特點(diǎn)：

（1）中子射線比x射線和r射線具有更強(qiáng)的穿透力，對(duì)含氫材料表現(xiàn)為很強(qiáng)的散射性能等特點(diǎn)。

（2）中子通過物質(zhì)時(shí)與原子核相互作用而衰減，且不同的元素有不同的吸收系數(shù)。中子不能直接使X射線膠片感光成像，而是通過一種特殊的轉(zhuǎn)換屏與X射線底片組合使用。

（3）可以用來檢查含氫、硼、鋰的物質(zhì)與重金屬組合的物體、檢查爆炸裝置、檢查陶瓷中的含水情況、檢查密封在金屬中的固體火箭推進(jìn)劑，也可以對(duì)原子序數(shù)相近或同一元素不同同位素進(jìn)行檢測(cè)及檢查核燃料等。

3、中子射線照相技術(shù)原理：

中子射線照相的基本透照布置如圖1所示。從中子源發(fā)出的中子束，通過準(zhǔn)直器照射到被檢工件，檢測(cè)器記錄透射的中子束分布圖像。不同物質(zhì)具有不同的中子衰減系數(shù)，因此透射中子束的分布圖像可以形成工件缺陷和雜質(zhì)等的圖像。

1. 快中子源　2. 減速劑　3. 中子吸收層4. 準(zhǔn)直器　5. 中子束　6. 工件　7. 膠片

D ——中子入射孔徑　L ——準(zhǔn)直器長度

圖1中子射線照相的基本透照布置圖

4、常用中子檢測(cè)方法：

    中子檢測(cè)技術(shù)目前常用的方法有熱中子法（TNA）：測(cè)量射線為中子俘獲反應(yīng)產(chǎn)生的特征γ射，主要測(cè)量元素有核材料，Ｈ，Ｎ，CL，Ｐ、快中子法（FNA）（常用14MeV）：測(cè)量射線為中子非彈性散射所激發(fā)的次級(jí)γ射，主要測(cè)量元素有Ｏ，Ｃ，（Ｈ），（Ｎ）、脈沖快熱中子法（PFTNA）：測(cè)量射線為在脈沖產(chǎn)生時(shí)測(cè)量中子非彈γ譜和脈沖間隙測(cè)量俘獲γ譜，主要測(cè)量元素有核材料，Ｈ，Ｎ，CL，Ｐ，Ｏ，Ｃ、伴隨a粒子成像技術(shù)/飛行時(shí)間法（API/TOF）：測(cè)量射線為利用符合技術(shù)測(cè)量中子非彈性散射所激發(fā)的次級(jí)γ射線，主要測(cè)量元素有Ｏ，Ｃ，Ｎ，金屬材料。

5、中子探測(cè)器XNC8800系列

針對(duì)高密度、大尺寸、超厚度零器件的檢測(cè)，X-Scan公司最近推出一款中子成像探測(cè)器——XNC8804系列線探測(cè)器。美國硅谷X-Scan imaging 公司是專注于X射線線陣探測(cè)器和芯片的專業(yè)供應(yīng)商，在無損探傷領(lǐng)域擁有豐富的成功經(jīng)驗(yàn)。X-Scan的產(chǎn)品集信號(hào)探測(cè)、信號(hào)放大、數(shù)字輸出于一體，有多種控制功能可供選擇，可方便地與計(jì)算機(jī)連接，實(shí)現(xiàn)圖像或信號(hào)的數(shù)字化處理。該產(chǎn)品主要面向核電廠、海關(guān)邊防等應(yīng)用領(lǐng)域。

主要性能指標(biāo)：

·檢測(cè)能量范圍：0.025eV~14MeV；

·閃爍體材料：NE-426；

·主要用于快種子和熱中子成像；

·硼酸聚乙烯防護(hù)、異軸成像、光纖面板耦合技術(shù)；

·探測(cè)長度可選；

·模數(shù)轉(zhuǎn)換：16bits；

·讀取噪聲：80 ADU；

·操作溫度：0到 +40 °C；

·存儲(chǔ)溫度：–10 到 +50 °C；

·操作和存儲(chǔ)濕度：20%到 90 %；

·電源電壓：100 到240 VAC。

圖2中子探測(cè)器XNC8800系列實(shí)物圖

XNC8800系列探測(cè)器型號(hào)如下表：

主要應(yīng)用方向：

·放射性襲擊的應(yīng)急響應(yīng)；

·海關(guān)和邊防巡邏；

·政府執(zhí)法部門；

·核電廠、銀行、政府實(shí)驗(yàn)室、醫(yī)療設(shè)備等部門的安全控制；

·軍隊(duì)；消防隊(duì)；

·應(yīng)急響應(yīng)部門；

·采礦業(yè)；核電廠、核實(shí)驗(yàn)室、放射醫(yī)學(xué)或核廢料安全檢測(cè)。

圖3 計(jì)算機(jī)軟驅(qū)中子成像圖（局部）     圖4 繼電器中子成像圖

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