日前，阿特斯陽光電力公司作為全球最大太陽能企業(yè)之一，宣布其光伏組件已經(jīng)通過了雙高壓耐力測試。光伏學(xué)會(huì)柏林股份公司對阿特斯的CS6多晶系列和CS5單晶系列組件進(jìn)行了PID測試，主要是系統(tǒng)高壓時(shí)輸出的穩(wěn)定敏感性。阿特斯的光伏組件再次展示了其高品質(zhì)產(chǎn)品的地位。
PID(PotentialInducedDegradation)意為電位誘發(fā)衰減測試，一些電站實(shí)際使用表明，光伏發(fā)電系統(tǒng)的系統(tǒng)電壓似乎存在對晶體硅電池組件有持續(xù)的“電位誘發(fā)衰減”效用，基于絲網(wǎng)印刷的晶體硅電池通過封裝材料(通常是EVA和玻璃的上表面)對組件邊框形成的回路所導(dǎo)致的漏電流，被確認(rèn)為是引起上述效應(yīng)的主要原因。
根據(jù)光伏學(xué)會(huì)柏林股份公司、TUV萊茵和VDE測試機(jī)構(gòu)和認(rèn)證協(xié)會(huì)共同的標(biāo)準(zhǔn)，阿特斯的光伏組件加1000V負(fù)壓，耐久性試驗(yàn)后組件性能仍高于98%以上。阿特斯首席執(zhí)行官瞿曉鏵表示：“測試為我們的客戶指引了方向，結(jié)果證明我們的產(chǎn)品品質(zhì)是可以信賴的。”
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