隨著技術(shù)的演進(jìn)及市場(chǎng)需求的改變，電子制造及測(cè)試的方式也隨之變化。二十一世紀(jì)人們對(duì)產(chǎn)品技術(shù)的提升、產(chǎn)品生命周期的縮短及價(jià)格的壓力讓電子制造業(yè)者開(kāi)始把目光轉(zhuǎn)向了PXI平臺(tái)。和傳統(tǒng)的基于PC，GPIB或VXI的測(cè)試平臺(tái)相比，PXI平臺(tái)更具競(jìng)爭(zhēng)力。 　　生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)的需求 　　當(dāng)需要構(gòu)建新的測(cè)試平臺(tái)時(shí)，人們的選擇往往集中在以下因素： 　　1、系統(tǒng)空間對(duì)于大量電子制造商或代工廠來(lái)說(shuō)，在有限的空間內(nèi)達(dá)成更高的產(chǎn)能是一個(gè)非常重要的問(wèn)題。因而，測(cè)試平臺(tái)占用的空間越小越好。下表是一個(gè)VXI與PXI平臺(tái)功能密度的比較。 　　系統(tǒng)所需空間所能提供的槽數(shù)功能密度VXI，C-size 9U 12 1.3 PXI 9U 13-19 1.4-2.1 PXI 5U 6-17 1.2-3.2 　　表1模組平臺(tái)功能密度的比較 　　從中我們可以看出，和VXI相比，PXI系統(tǒng)組態(tài)功能密度比更高，這就意味著在提供同樣功能的測(cè)試系統(tǒng)時(shí)，PXI平臺(tái)所占的空間更小。 　　2、測(cè)試治具對(duì)于模塊類產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試，測(cè)試治具會(huì)是選擇平臺(tái)時(shí)會(huì)考慮的另一個(gè)重要因素。對(duì)于測(cè)試治具來(lái)說(shuō)，人們要求它具有可靠的機(jī)械接口及接頭，同時(shí)要求接收器與工具間接頭能夠多樣化。而對(duì)與測(cè)試平臺(tái)來(lái)說(shuō)，人們則要求測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)與測(cè)試工具間的兼容性和整體性。 　　3、系統(tǒng)控制器系統(tǒng)控制器有外接式和嵌入式兩種選擇。使用外接式系統(tǒng)控制器可以節(jié)省主機(jī)插槽數(shù)量，提供更多的外設(shè)插槽給儀器設(shè)備或切換器使用，同時(shí)簡(jiǎn)化與計(jì)算機(jī)外設(shè)設(shè)備的聯(lián)機(jī)管理，另外價(jià)格低廉且系統(tǒng)功能容易升級(jí)，但是需要PCI bus的延伸套件。采用嵌入式控制器則不需要另外一臺(tái)主機(jī)作為控制用，最大的好處就是節(jié)省空間。 　　4、儀器與信號(hào)切換器儀器的模塊化、高密度整合性及高速數(shù)據(jù)傳輸速度等特性都是系統(tǒng)設(shè)計(jì)者必須考慮的因素。如果在系統(tǒng)中，信號(hào)切換器的需求相當(dāng)可觀時(shí)，如何選擇合適的平臺(tái)規(guī)格將會(huì)影響使用者的系統(tǒng)尺寸及價(jià)格。 　　凌華科技解決方案依靠在PXI/cPCI領(lǐng)域的領(lǐng)先優(yōu)勢(shì)和完整的產(chǎn)品線，凌華科技可以提供比較完整的解決方案： 　　硬件架構(gòu)：系統(tǒng)平臺(tái)采用凌華3U或者6U PXI機(jī)箱；系統(tǒng)控制器可以采用嵌入式控制器，也可以采用凌華工控機(jī)作為擴(kuò)展用主機(jī)，利用PCI/PXI-8570總線擴(kuò)展卡擴(kuò)展至PXI平臺(tái)；信號(hào)切換部分可以使用凌華科技的各種通用繼電器模塊或是第三方提供的各種切換模塊（涵蓋從低頻到RF的數(shù)百種切換模塊）；模擬量/數(shù)字量輸入/輸出部份可以采用凌華提供的各種采集模塊和計(jì)數(shù)器模塊；另外凌華科技還可以提供包括數(shù)字存儲(chǔ)示波器模塊、任意波形發(fā)生器模塊、6位半數(shù)字萬(wàn)用表模塊，滿足各種不同的測(cè)試需求。如果需要的話，還可以通過(guò)PXI接口的GPIB模塊，連接到其它外部GPIB設(shè)備?！　? 　　軟件驅(qū)動(dòng)程序：凌華產(chǎn)品提供的驅(qū)動(dòng)程序可以很好地支持VB/VC/LabVIEW等多種驅(qū)動(dòng)程序。 　　測(cè)試治具：測(cè)試治具一般由廠商的測(cè)試部門自行實(shí)現(xiàn)，基于PXI的模塊大量采用通用的SCSI接口，便于廠商自行開(kāi)發(fā)外部接口，完成PXI測(cè)試平臺(tái)與測(cè)試治具的連接。 　　系統(tǒng)評(píng)價(jià)結(jié)合了開(kāi)放而高性能的PCI總線、CompactPCI強(qiáng)健的機(jī)械性能及高密度整合的優(yōu)勢(shì)，基于PXI的測(cè)試系統(tǒng)具有占用空間小、高速、兼容性強(qiáng)、成本低等諸多優(yōu)點(diǎn)。對(duì)大量生產(chǎn)的電子制造測(cè)試系統(tǒng)而言，PXI平臺(tái)無(wú)疑是一個(gè)極具競(jìng)爭(zhēng)力的新選擇。